纺织品紫外线防护性能分析仪

纺织品紫外线防护性能分析仪

紫外线防护系数UPF、紫外线防护系数UPFav、透射比平均值T(UVA)av、透射比平均值T(UVB)av、

平均阻隔率、平均透过率、波段透过率，临界波长，UVA/UVB、UPF评价、UVA透过率、

UVA阻隔率、UVB透过率、UVB阻隔率

1.客观、可重复地测量紫外线穿透率（UVA/UVB），精准评估织物的UPF防护等级。
2.严格遵循AATCC 183、AS/NZS 4399、ISO 13758等多项国际测试标准，确保您的产品符合全球市场的准入要求。
3.自动化的测试流程与直观的数据报告，大幅简化品质控制环节，加速产品从研发到上市的进程。

1. 瞬态紫外光谱采集技术：1秒完成全波段扫描

采用先进的500KHz 高速光谱采集技术，相根本上颠覆了传统逐点扫描的缓慢机制。探测器阵列实现

纳秒级同步响应，确保在 0.1毫秒的极短积分时间内，即可完成从 UVA 到 UVB (250-420nm) 的全波

段数据采集。强大的并行计算能力支持数据采集、信号平均到 UPF 结果分析的整个流程，在1秒内即可

完成，显著提升了检测效率。

2.智能一体化操控系统内置高清触控屏，实现单机即时分析

系统搭载了高性能四核工业级处理器和仪器控制优化的嵌入式操作系统，摆脱了对外部PC的依赖，

从根本上保证了系统的稳定性与数据处理的即时性。所有操作均通过工业级电容触控屏完成，遵循 

SOP驱动的逻辑，大幅降低了操作门槛并避免了误操作。从光谱数据采集、暗电流校正，到依据复

杂标准进行的UPF 值、UVA/UVB 透过率计算，一键触发预设的自动化测试序列，实现了从“样品”

到“结果”的无缝衔接。

3. 高动态范围光电探测系统：UPF测量上限高达2000

搭载科研级高动态范围光电探测阵列，实现50000:1 的超宽动态范围，确保从高透光率到极端遮

光面料的信号均能被精准捕获。紫外波段量子效率接近90%，信号响应更灵敏。通过先进的制冷

技术将暗噪声抑制在 <0.1mv/rms 的超低水平，即使在毫秒级曝光下也能获得清晰信号。轻松

应对低于0.05% 的超低透过率的极限挑战，检测灵敏度可高达 UPF 2000。

4. 超宽谱紫外全覆盖技术：精准评估UVA/UVB全防护能力

采用对称式光路设计与科研级背照式面阵探测器，实现了250nm 至 420nm 的超宽紫外光谱测量

范围。不仅完全覆盖了国际标准定义的 UVB (280-315nm) 和 UVA (315-400nm) 波段，更将测量

范围延伸至 UVA-I 长波区域扩展至 420nm，确保捕捉到最细微的光谱信息。
超越标准要求：远超AATCC 183、AS/NZS 4399 等标准所要求的 400nm 上限，为评估前沿的广

谱防护材料提供了决定性的数据支持。

高分辨率解析：凭借2nm的光学分辨率，能够精确解析光谱的每一个细节，从而更全面、更精准地评

估纺织品对全谱紫外线的真实防护效能，确保您的测试结果在任何场合都具备无可争议的完整性与权威性。

5. 全球标准兼容性：内置多国权威测试方法

预置了AATCC 183、AS/NZS 4399、EN 13758、GB/T 18830、JIS L 1925 等多国权威标准。

系统即时锁定该标准的所有关键参数：特定的波长范围、数据步长及UPF计算权重，确保每一次测试

都符合目标法规的要求。

架构化更新支持：采用模块化软件架构，当国际标准更新或发布新版本时，您可以通过简单的软件升级包，

快速获取对新标准的兼容能力，确保您的投资长期有效，始终与国际前沿保持同步。